復雜容器雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*，發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認。CDRD50系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調(diào)技術(shù)，可以準確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間隔，從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。

復雜容器雷達物位計特  點
由于采用了*微波處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術(shù)，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
“虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結(jié)果。
多種過程連接方式及天線型式，使得CDRD50系列雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)的測量等。
采用脈沖工作方式，雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。應用:存儲容器或過程容器,復雜過程條件
zui大量程： 30m
測量精度：±10mm
過程連接：法蘭316L
探測組件材料：不銹鋼316L/PTFE
鋼纜/棒直徑：￠28mm
過程溫度：-40～200℃
過程壓力：-0.1～40bar
頻率范圍：6GHz
信號輸出：兩線制/四線制4～20mA /HART